2010-3-27 16:36:58 | 显示全部楼层 | 阅读模式
我一直在用光学监控方法做AR膜(430~660 R≤0.3%)。在做工艺时,按照设计初衷也能实现,但是其重复性却不是很理想。因为本身膜层中就有0.2 (OMP)以下厚度的膜层,介于光学监控超薄层时弊端,所以每锅的重复不好,分光性能相差很大。
    在这里,向请教下那为大侠能有更好的方法,使用光控监控膜层厚度在做AR膜时的重复性更好呢?
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2010-3-29 15:45:29
实时监控法了
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2010-4-11 03:21:29
可实时监控法了( b5 u- i  J$ N4 G7 ~
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2010-6-29 18:46:10
楼主有钱啊.

晶控稳定性很好的。
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