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2011-12-16 22:23:36
学习,没用过光控
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2011-12-19 08:39:58
直接监控是直接测试被镀件表面的光信号变化(leybold设备采用),而间接监控是监控同炉次的一个监控片表面镀膜过程的光信号变化(目前大部分机器采用)
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2011-12-19 11:03:05
谢谢解释。我现在用的就是间接监控。按我测量的结果,监控片上的参数,不能直接作为设计依据。那么,tooling值我能直接用样片和设计值进行计算吗?
设计值与监控片的膜有差异,而监控片的膜与样片的又有差异。应该如何计算呢?
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2011-12-19 21:25:11
Jimmy_tang 发表于 2011-12-19 11:03
谢谢解释。我现在用的就是间接监控。按我测量的结果,监控片上的参数,不能直接作为设计依据。那么,toolin ...

恩,我也有这样的疑问。不知你现在解决没有,我还是搞不明白
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2011-12-20 09:17:38
缘睐汝痴 发表于 2011-12-19 21:25
恩,我也有这样的疑问。不知你现在解决没有,我还是搞不明白

自然是没有的。我现在是在磕磕绊绊地摸石头过河啊。
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2011-12-20 20:21:42
Jimmy_tang 发表于 2011-12-20 09:17
自然是没有的。我现在是在磕磕绊绊地摸石头过河啊。

大家多交流啊  朋友的机器是 那里的  啊  
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2011-12-20 22:35:25
我也来学习学习
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2011-12-21 13:28:07
国产机子啦,公司在昆山。
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