2013-4-9 16:43:12 | 显示全部楼层 | 阅读模式
本帖最后由 nancy-y 于 2013-4-9 16:44 编辑




美国4D技术公司推出新的AccuFiz LWIR 激光干涉仪,满足10.6 μm波段表面面形和波前的测量。该系统非常适合凹面、凸面以及无焦红外光学元件、红外望远镜、红外镜头组的测量。

AccuFiz LWIR干涉仪的低噪声和高空间分辨率,
可以清晰地观察被测样品表面的中间空间频率特征;
可选动态模式,可以在空气湍流和极端振动的环境下进行动态测量。

AccuFiz系列干涉仪,条纹分辨率不小于500根。


4D new one.JPG


Logo-OPTurn.jpg



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