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你是用晶控系统控制膜层的厚度的吗?晶振片受温度的影响,速率会改变的。晶控系统你主要的配置是什么,你是用MDC360C膜厚控制仪吗?
milantree 发表于 2009-5-13 09:32 
晶控是用来控制膜厚,MDC360C,双探头结构(sensor1和sensor2)。控制左右电子枪和阻蒸发源(soure1,2,和6)。
烘烤的PID都进行过调整,但只要电压变化在超过10V以上时,就会对晶控产生干扰(电子枪和离子源发热,烘烤电压会停止,但镀制过程中,温度达不到设定值后,又会开启,此时便开始干扰晶控) |
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