2010-1-4 23:38:55 | 显示全部楼层 | 阅读模式


我目前正在测试一个高分率光栅光谱仪的性能,分辨率为10nm谱段分布在1024 个pixels上。当光谱仪温度变化时,谱线会发生移动。请问各位朋友,应该如何分析呢?主要是由于平台热膨胀引起CCD 位置偏移 ,还是由于温度变化光栅角度随着定位螺丝发生轻微变化,或者是整个光路尺寸发生了变化?



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